MSP - Maîtrise statistique du procédé (SPC)

Objectifs

• Définir l’incertitude d’une mesure.
• Dimensionner un échantillon
• Calculer la performance d’un échantillon
• Prédire les performances d’une production
• Paramétrer et suivre des cartes de contrôle

Programme

Le but d’une entreprise

Les moyens d’atteindre le but

Le contexte actuel

La productivité

Les processus

• Performance
• Maitrise
• Conditions de maitrise

Les causes de dispersion d’un processus

• Causes communes
• Causes spéciales

Les statistiques exactes et les statistiques probables

Le vocabulaire : individu, caractère, population, échantillon

Les notions de statistique :

• Moyenne
• Médiane
• Quartile
• Étendue
• Variance
• Écart type
• Distribution
• Loi normale

La taille d’un échantillon

• Calcul
• Incertitude

Le prélèvement de l’échantillon (simple, aléatoire, systématique, stratifié, successif, fréquentiel)

La mesure de l’échantillon

• L’incertitude d’un moyen de mesure
• Les incertitudes de type A
• Les incertitudes de type B
• Le R&R

Analyse de l’échantillon

• La normalité (tests : droite de Henry, KOLMOGOROV-SMIRNOV, …)
• La performance de l’échantillon (moyenne, écart type)

Estimation des performances de la population (moyenne, dispersion, marge d’erreur)

Performance de dispersion (Cp, Pp, Cm, Pm)

Performance de centrage (Cpk, Ppk, Cmk, Pmk)

Probabilité du nombre de de non conformités

Mise sous surveillance d’un processus : les cartes de contrôle

Cartes aux mesures (Moyennes et étendues, Moyennes et écarts types, Valeurs individuelles et étendues mobiles, CUSUM, EWMA) : Construction, suivi, interprétation

Cartes aux attributs (suivi des défectueux en nombre (np) ou en proportion (p) - suivi des défauts en nombre © ou en proportion (u) : Construction, suivi, interprétation